Espectrofotómetro con Esfera de Integración

24th April 2019 • Equipos

DATOS Nombre Espectrofotómetro con Esfera de Integración Marca Shimadzu Modelo UV 2600 Descripción Gracias a la adopción de una red de difracción de baja luz dispersa (Lo-Ray-Ligh grade), estos instrumentos logran condiciones de baja luz espuria, que en combinación con mejoras en el sistema electrónico, alcanzar mediciones con un alto valor de absorbancia, hasta niveles […]

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Microscopio Electrónico de Barrido

24th April 2019 • Equipos

DATOS Nombre Microscopio Electrónico de Barrido Marca Zeiss Modelo EVO HD Descripción La ultima innovación en microscopia electronica desarrollada por CARL ZEISS, con un aumento sin precedentes en la resolución frente a las tecnologias convencionales, introduciendo el concepto de alta definición a la microscopia electronica, obteniendo resultados inigualables en la observación de muestras con resoluciones […]

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Microscópio öptico Invertido

24th April 2019 • Equipos

DATOS Nombre Microscópio öptico Invertido Marca Zeiss Modelo Axio Vert.A1 FL Descripción SISTEMA DE ÓPTICA: ICS (infinity colorcorrected system) completamente plana, corregida al infinito. TECNICA ÓPTICA DISPONIBLE: CAMPO CLARO (H), CONTRASTE DE FASES EN 10x Y 40x. TECNICAS ÓPTICAS ADAPTABLES: FLUORESCENCIA, PlasDIC, VAREL, IHMC LABORATORIOS Nombre Más información Laboratorio Universidad Central Ver

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Sistema de Plasma de Baja Presión

24th April 2019 • Equipos

DATOS Nombre Sistema de Plasma de Baja Presión Marca Diener Electronic Modelo Zepto B Descripción GENERADOR DE PLASMA: Generador de frecuencia = 40kHz con potencia ajustable [0 – 100] W. CÁMARA DE PLASMA: Vidrio de borosilicato con volumen aprox de 2.6 litros (Diámetro aprox = 105mm, Longitud aprox = 300mm). CONEXIONES DE GAS: Dos canales […]

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Sistema de Plasma de Baja Presión

24th April 2019 • Equipos

DATOS Nombre Sistema de Plasma de Baja Presión Marca Diener Electronic Modelo Zepto B Descripción El Plasma de Baja Presión ofrece muchas posibilidades para modificar superficies. La “limpieza fina” de componentes contaminados, la plasma-activación de piezas plásticas, el mordentado de PTFE, Siliconas, los recubrimientos de piezas plásticas con capas similares al PTFE, son algunas de […]

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